专利名称：一种基于辐射源特征的GTEM小室辐射EMI测试方
法
专利类型：发明专利
发明人：赵阳,张宇环,刘勇,窦爱玉,夏欢,陈旸,颜伟,周荣锦申请号：CN201310002400.1申请日：20130104公开号：CN103048574A公开日：20130417
摘要：本发明公开了一种基于辐射源特征的GTEM小室辐射EMI测试方法，该方法包括如下步骤：第一步，根据近场波阻抗理论判定被测设备辐射源类型，即判定辐射源是以共模辐射为主还是以差模辐射为主；第二步，若判定被测设备辐射源类型以共模辐射特性为主，则采用极差-均值法处理GTEM结果；若判定被测设备辐射源类型以差模辐射特性为主，则采用方差法处理GTEM结果。针对GTEM小室用于辐射发射的测试实验，本发明提出的基于电磁干扰源特征的GTEM辐射干扰测量方法，能大大提高GTEM小室用于辐射EMI测试时的测试结果精度，为基于GTEM辐射EMI测量提供了有效参考。
申请人：南京师范大学
地址：210046 江苏省南京市栖霞区文苑路1号
国籍：CN
代理机构：南京知识律师事务所
代理人：李媛媛
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